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技術文章/ARTICLE
超低阻雙電四探針測試儀主要參數
點擊次數：8139 發布時間：2015/8/11 9:58:12
超低阻雙電四探針測試儀
為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率，*小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業中能測量到的*小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
主要參數：
為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率，*小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業中能測量到的*小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
主要參數：
1.方塊電阻范圍：10-6～2×102Ω/□
2.電阻率范圍：10-7～2×103Ω-cm
3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA.
4.電流精度：±0.1%讀數
5.電阻精度：≤0.3%
6.測試方式: 雙電測量
7.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
8.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）
9.選購功能: 選購1.pc軟件； 2.方形探頭； 3.直線形探頭； 4.測試平臺
10.測試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
原創作者：寧波瑞柯微智能科技有限公司
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浙公網安備：
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