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方阻測量時保護探頭的重要性

點擊次數:8198   發布時間:2018/1/12 10:02:19

 方阻測量時保護探頭的重要性

方阻也稱為方塊電阻,指一個正方形的薄膜導電材料邊到邊間的電阻作為描述。

涂層類,鍍膜類產品基本上都是通過測量方阻的形式來衡量樣品的厚度。

方塊電阻有一個特性,即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的

影響方阻的因素主要有以下幾個方面:

探針與邊緣的距離;

探針之間的等距離

一般測量方阻的儀器有手持式和臺式兩種,這也是目前市場上比較常見的,

手持式的FT-392手持式四探針測試儀;臺式的FT-331四探針方阻測試儀;

手持式的精度一般都比臺式的低些,臺式的量程寬些,當然,精度也高很多。

方阻儀測量特別注意對探頭的保護,探針的保護是非常重要的,我們很多使用者,從出現探針被弄壞,探針丟失,探針沒有彈性,以及探針形變等,這些都是由于保管不到位造成的,正常情況下,一付探針的使用壽命可以達到3年左右,比較頻繁的使用條件下。

方阻測試對環境要求也是比較高的,建議在相當恒定的環境下測量,減少溫度,濕度偏差及其他不確定性操作的數據偏差,

 

同時建議在測試中,采用PC軟件來做分析,這樣可以觀察過程數據變化及數據的保存等,都是不錯的選擇。

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。

廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等

參數資料

1.方塊電阻范圍:10-52×106Ω/□

2.電阻率范圍:10-62×106Ω-cm

3.測試電流范圍:0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100 mA

4.電流精度:±0.1%讀數

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數:液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm2mm3mm三種規格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 

 

 

原創作者:寧波瑞柯微智能科技有限公司

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