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技術文章/ARTICLE
方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀作業技術指標
點擊次數:7502 發布時間:2020/6/23 11:05:52
方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀作業技術指標,方阻計,方阻儀,方塊電阻測試儀,四探針測試儀,振實儀
(http://www.app17.com/c101739/products/d9733319.html)
一、方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀概述:
方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀儀按照硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量,更加準確。
二、方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀適用范圍:
方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成報表。
三、方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀產品特點:
方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。

四、方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀參數資料:
1、方塊電阻范圍:10-2~2×103Ω/□
2、電阻率范圍:10-3~2×104Ω-cm
3、測試電流范圍:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
4、電流精度:±0.3%讀數
5、電阻精度:≤0.5%
6、顯示讀數:液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7、測試方式: 普通單電測量
8、工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗:<30W
9、整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)
10、選購功能:
(1)選購1.pc軟件;
(2)選購2.方形探頭;
(3)選購3.直線形探頭;
(4)選購4.測試平臺
11、測試探頭:
(1)探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規格;
(2)探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針
(http://www.app17.com/c101739/products/d9733319.html)
一、方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀概述:
方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀儀按照硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量,更加準確。
二、方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀適用范圍:
方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成報表。
三、方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀產品特點:
方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。

四、方阻計@FT-336型薄膜方阻測試儀參數資料:
1、方塊電阻范圍:10-2~2×103Ω/□
2、電阻率范圍:10-3~2×104Ω-cm
3、測試電流范圍:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
4、電流精度:±0.3%讀數
5、電阻精度:≤0.5%
6、顯示讀數:液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7、測試方式: 普通單電測量
8、工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗:<30W
9、整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)
10、選購功能:
(1)選購1.pc軟件;
(2)選購2.方形探頭;
(3)選購3.直線形探頭;
(4)選購4.測試平臺
11、測試探頭:
(1)探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規格;
(2)探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針
原創作者:寧波瑞柯微智能科技有限公司