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技術(shù)文章/ARTICLE
方塊電阻測試儀器設備操作規(guī)范
點擊次數(shù)：7348 發(fā)布時間：2020/10/26 10:44:17
方塊電阻測試儀器設備操作規(guī)范,方塊電阻測試儀,電阻率測試儀,方阻儀,表面電阻率測試儀,四探針電阻率測試儀,材料電阻率測試儀
（http://www.app17.com/c101739/products/d9720666.html）
一、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀概述：
方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀采用四探針雙電測量方法，配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表。
二、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀適用范圍：
方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
三、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀產(chǎn)品優(yōu)勢：
方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
四、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀工作原理：
FT-341 導電薄膜方塊電阻測試儀雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
五、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀參數(shù)資料：
1、方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□
2、電阻率范圍：10-5～2×106Ω-cm
3、測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4、電流精度：±0.1%讀數(shù)
5、電阻精度：≤0.3%
6、顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7、測試方式: 雙電測量
8、工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
9、整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結(jié)果）
10、選購功能:
（1）選購1.pc軟件；
（2）選購2.方形探頭；
（3）選購3.直線形探頭；
（4）選購4.測試平臺
11、測試探頭：
（1）探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格;
（2） 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
（http://www.app17.com/c101739/products/d9720666.html）
一、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀概述：
方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀采用四探針雙電測量方法，配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表。
二、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀適用范圍：
方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
三、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀產(chǎn)品優(yōu)勢：
方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
四、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀工作原理：
FT-341 導電薄膜方塊電阻測試儀雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
五、方塊電阻測試儀@FT-341型導電薄膜方塊電阻測試儀參數(shù)資料：
1、方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□
2、電阻率范圍：10-5～2×106Ω-cm
3、測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4、電流精度：±0.1%讀數(shù)
5、電阻精度：≤0.3%
6、顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7、測試方式: 雙電測量
8、工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
9、整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結(jié)果）
10、選購功能:
（1）選購1.pc軟件；
（2）選購2.方形探頭；
（3）選購3.直線形探頭；
（4）選購4.測試平臺
11、測試探頭：
（1）探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格;
（2） 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
原創(chuàng)作者：寧波瑞柯微智能科技有限公司
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