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技術(shù)文章/ARTICLE
方阻計(jì)@薄膜方阻測試儀操作方法#技術(shù)新聞
點(diǎn)擊次數(shù)：6693 發(fā)布時(shí)間：2023/7/18 11:03:52
方阻計(jì)@薄膜方阻測試儀操作方法#技術(shù)新， 方阻計(jì)價(jià)格 方阻計(jì)廠家 方阻計(jì)品牌
據(jù)技術(shù)部7月18日11點(diǎn)08分透露：方阻計(jì)@薄膜方阻測試儀操作方法#技術(shù)新聞http://www.app17.com/c101739/products/d9733319.html
一、方阻計(jì)@FT-336型薄膜方阻測試儀概述：
方阻計(jì)@FT-336型薄膜方阻測試儀儀按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準(zhǔn)確。
二、方阻計(jì)@FT-336型薄膜方阻測試儀適用范圍：
方阻計(jì)@FT-336型薄膜方阻測試儀采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報(bào)表。
三、方阻計(jì)@FT-336型薄膜方阻測試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
方阻計(jì)@FT-336型薄膜方阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購。
四、方阻計(jì)@FT-336型薄膜方阻測試儀參數(shù)資料：
1、方塊電阻范圍：10-2～2×103Ω/□
2、電阻率范圍：10-3～2×104Ω-cm
3、測試電流范圍：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4、電流精度：±0.3%讀數(shù)
5、電阻精度：≤0.5%
6、顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7、測試方式: 普通單電測量
8、工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
9、整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10、選購功能:
（1）選購1.pc軟件；
（2）選購2.方形探頭；
（3）選購3.直線形探頭；
（4）選購4.測試平臺
11、測試探頭：
（1）探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格;
（2）探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
原創(chuàng)作者：寧波瑞柯微智能科技有限公司
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