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技術(shù)文章/ARTICLE
方塊電阻測(cè)試儀適用范圍有哪些?
點(diǎn)擊次數(shù):6712 發(fā)布時(shí)間:2023/9/11 15:18:27
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據(jù)技術(shù)部9月11日15點(diǎn)24分透露:FT-341型方塊電阻測(cè)試儀適用范圍有哪些?(http://www.app17.com/c101739/products/d9720666.html)
一、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀概述:
方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法,配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表。
二、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀適用范圍:
方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
三、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
四、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀工作原理:
FT-341 導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
五、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀參數(shù)資料:
1、方塊電阻范圍:10-5~2×105Ω/□
2、電阻率范圍:10-5~2×106Ω-cm
3、測(cè)試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
4、電流精度:±0.1%讀數(shù)
5、電阻精度:≤0.3%
6、顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7、測(cè)試方式: 雙電測(cè)量
8、工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗:<30W
9、整機(jī)不確定性誤差: ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)
10、選購(gòu)功能:
(1)選購(gòu)1.pc軟件;
(2)選購(gòu)2.方形探頭;
(3)選購(gòu)3.直線形探頭;
(4)選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)
11、測(cè)試探頭:
(1)探針間距選購(gòu):1mm;2mm;3mm三種規(guī)格;
(2) 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針
原創(chuàng)作者:寧波瑞柯微智能科技有限公司