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產品分類/CLASS

粉末電阻率測試儀

粉體特性綜合測試儀

休止角測定儀

安息角測定儀

粉末流動性測定儀

表觀密度測定儀

堆積密度測定儀

振實密度儀

粉體松裝密度測定儀

壓實密度儀

材料電阻率測試儀

四探針測試儀

表面和體積電阻率測試儀

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電絕緣性測試儀

粒度儀

密度計

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產品展示/PRODUCTS

雙電四探針粉末電阻率測試系統

雙電四探針粉末電阻率測試系統
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價格:電議

型號:FT-8200

采購度:4076    原產地:中國大陸

發布時間:2017/7/20 17:10:08

產品簡介:雙電四探針粉末電阻率測試系統,大量程方阻測量范圍、*小測量到-5次方或-6次方,采用高精度集成電路模塊;智能一體化結構設計,整體大方, USB,232通訊接口,高精恒直流恒流源 ,提供四探針法和四端法兩種測量模式并存, 全程采用PC軟件操作,自動測試過程數據曲線及圖譜分析,實時分析壓強/壓力與電阻,電阻率,電導率的變化關系,及報表生成,存儲,打印等;

在線詢價咨詢電話:0574-27976112,0574-27975197

詳細信息
雙電四探針粉末電阻率測試系統

產品特點

 

大量程方阻測量范圍、*小測量到-5次方或-6次方,采用高精度集成電路模塊;智能一體化結構設計,整體大方, USB232通訊接口,高精恒直流恒流源 ,提供四探針法和四端法兩種測量模式并存, 全程采用PC軟件操作,自動測試過程數據曲線及圖譜分析,實時分析壓強/壓力與電阻,電阻率,電導率的變化關系,及報表生成,存儲,打印等;

A high precision integrated circuit module is used for the measurement range,  wide range of  sheet resistor. the smallest measure to the minus 5 or the negative 6 power.Intelligent integration structure design, the overall generous, USB, 232 communication interface, high precision constant  DC constant current source, and provide four point probe method and four-terminal method two measurement modes coexist, fully use the PC software operation, the process of automatic test data curve and spectrum analysis, real-time analysis of pressure/pressure and resistance, resistivity, and the changes of conductivity and report generation, storage, printing, etc

 雙電四探針粉末電阻率測試系統
滿足標準

 

1)四探針測試儀滿足GB/T 1551GB/T1552-1995ASTM F84美國A.S.T.M 標準。

The four-probe tester meets GB/T 1551, GB/t1552-1995, ASTM F84 U.S. A.S.T.M standard.

2)四探針法粉末測試平臺依據GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復合磷酸鐵鋰正極材料》中關于粉末電導率的測定方法中用于仲裁方法的四探針法要求制作.

Four point probe method test platform based on GBT powder 30835-2014 “The lithium ion battery with carbon compound lithium iron phosphate cathode material "method for determination of the conductivity of powder in four point probe method for arbitration method in the request.

三、適用范圍:Scope of application

廣泛用于鋰離子電池用炭復合磷酸鐵鋰正極材料電阻率的測量;也應用于需要采用四探針法測量的導體或半導體粉末材料的分析與檢測;用于石墨類粉狀材料電阻率的測量;廣泛應用于國內外企業品質檢測;研發部門,大中專院校;科研院所;及質量檢測機構.

Widely used in the measurement of resistivity of lithium anode materials used in lithium ion batteries.It also applies to the analysis and detection of a conductor or semiconductor powder material that needs to be measured by four probes.Measurement of resistivity of graphite powder materials;It is widely used in domestic and foreign enterprise quality testing.The research and development department, the college of major and secondary schools;Research institutes and Quality monitoring organization.
 雙電四探針粉末電阻率測試系統
參數規格

規格型號/ Specification model

FT-8200A

FT-8200B

1.方塊電阻范圍sheet resistance range

10-52×105Ω/□

10-62×105Ω/□

2.電阻率范圍

resistivity range

10-62×106Ω-cm

10-72×107Ω-cm

電導率范圍Conductivity range

5×10-6106ms/cm

5×10-7107ms/cm

3.測試電流范圍

test current range

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100 mA

10μA100µA1mA10mA100 mA1000mA

4.電流精度

current accuracy

±0.1%

±0.1%

軟件界面

 

電阻、電阻率、方阻、溫度、單位切換、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率、圖譜顯示,壓力設定,*小壓強,壓強,報表導出,波形刷新,時間設定,啟動、停止、運行

resistance, resistivity, sheet resistance, temperature, unit conversion, temperature coefficient, current, voltage, probe shape, probe spacing, thickness, conductivity. Graph shows, pressure setting, minimum pressure, maximum pressure, report export, waveform refresh, time setting, start, stop, run

6.測試方式Test method:

雙電組合測量

ordinary single electrical measurement

7.模具選購Choose to buy mold:

:模具A內徑:20mm ;模具B:內徑10mm

mold A inner diameter20mm

mold B: inner diameter 10mm

8.壓力選購

Choose to buy pressure:

壓力A:0-1000kg 壓力B:0-200kg

Pressure A:0-1000kg

Pressure B:0-200kg

9. 模腔行程:Die cavity stroke:

0-30mm(樣品壓實厚度建議在4mm內)

0-30mmSample compaction thickness is recommended in 4mm

10.高度測量范圍:Altimeter measurement range

0-25mm分辨率0.01mm高精度位移傳感器

0.25mm resolution 0.01mm

high precision laser displacement sensor

11. 恒壓時間:Constant pressure time:

0-999s

12.整機重復性誤差: errors

≤4.5%(平均性誤差,人為因數外)

: ≤4.5% ( average error, except human factor)

≤3%(平均性誤差,人為因數外)

: ≤3% ( average error, except human factor)

工作電源:

Power supply:

輸入: AC 220V±10% ,50Hz 耗:<60W

input: AC 220V±10% ,50Hz  <60W

15.選購:

1)四探針探頭及平臺(固體半導體材料測量使用)Four probe probe head and platform

3)標準電阻。用于校準儀器

Standard resistance.Calibrated instrument

       

                                       

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

更新時間:2024/9/12 9:17:39


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