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方塊電阻測(cè)試儀@導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀廠家@市場(chǎng)快訊
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價(jià)格：電議
型號(hào)：FT-341型
采購(gòu)度：3660 原產(chǎn)地：中國(guó)大陸
發(fā)布時(shí)間：2020/7/27 9:13:22
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詳細(xì)信息
FT-341型方塊電阻測(cè)試儀@導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀廠家@市場(chǎng)快訊,方塊電阻測(cè)試儀,電阻率測(cè)試儀,方阻儀,表面電阻率測(cè)試儀,四探針電阻率測(cè)試儀,材料電阻率測(cè)試儀
本公司7月27號(hào)09點(diǎn)17分報(bào)道：FT-341型方塊電阻測(cè)試儀@導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀廠家@市場(chǎng)快訊
(http://www.app17.com/c101739/products/d9720666.html)
一、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀概述：
方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表。
二、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀適用范圍：
方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
三、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
四、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀工作原理：
FT-341 導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
五、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀參數(shù)資料：
1、方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□
2、電阻率范圍：10-5～2×106Ω-cm
3、測(cè)試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4、電流精度：±0.1%讀數(shù)
5、電阻精度：≤0.3%
6、顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7、測(cè)試方式: 雙電測(cè)量
8、工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
9、整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10、選購(gòu)功能:
（1）選購(gòu)1.pc軟件；
（2）選購(gòu)2.方形探頭；
（3）選購(gòu)3.直線形探頭；
（4）選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)
11、測(cè)試探頭：
（1）探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格;
（2） 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
本公司7月27號(hào)09點(diǎn)17分報(bào)道：FT-341型方塊電阻測(cè)試儀@導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀廠家@市場(chǎng)快訊
(http://www.app17.com/c101739/products/d9720666.html)
一、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀概述：
方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表。
二、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀適用范圍：
方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
三、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
四、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀工作原理：
FT-341 導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
五、方塊電阻測(cè)試儀@FT-341型導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀參數(shù)資料：
1、方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□
2、電阻率范圍：10-5～2×106Ω-cm
3、測(cè)試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4、電流精度：±0.1%讀數(shù)
5、電阻精度：≤0.3%
6、顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7、測(cè)試方式: 雙電測(cè)量
8、工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
9、整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10、選購(gòu)功能:
（1）選購(gòu)1.pc軟件；
（2）選購(gòu)2.方形探頭；
（3）選購(gòu)3.直線形探頭；
（4）選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)
11、測(cè)試探頭：
（1）探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格;
（2） 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
更新時(shí)間：2024/9/15 9:30:28
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